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Ministère de l'Enseignement Supérieur et de la Recherche Scientifique

Centre de Recherche
en Technologies Industrielles CRTI

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Curriculum vitae


GOUMEIDANE_Aicha Baya

Dr. GOUMEIDANE Aicha Baya
Équipe de recherche 11 : Reconnaissance de forme
Grade : Maitre de Recherche Classe « A », Habilité
E-Mail : a.goumeidane@crti.dz


Diplomes :

  • 2016: Habilitation universitaire en Electronique
  • 2010: Doctorat en Electronique
  • 2002: Magistère en Electronique
  • 1995: Ingénieur d'état en Electronique


Domaines de compétences scientifiques :

  • Analyse d’images
  • Imagerie
  • Segmentation d images radiographiques des défauts de soudure
  • Traitement du signal et de l image
  • Traitement d’Image

Publications


Aicha Baya Goumeidane , Abdessalem Bouzaieni , Nafaa Nacereddine , Antoine Tabbone , Bayesian Networks-Based Defects ClassesDiscrimination in Weld Radiographic Images, Lecture Notes in Computer Science (LNCS) , Volume 9257 , 2015 , pp 556-567.
GOUMEIDANE Aicha Baya , NACEREDDINE Nafaa , Khamadja Mohammed , Computer aided weld defect delineation using statistical parametric active contours in radiographic inspection, Journal of X-Ray Science and Technology , Volume 23 , Issue 3 , 2015 , pp 289-310.
N. Nacereddine , L. Hamami , D. Ziou , A. B. Goumeidane , Region-based active contour with adaptive B-spline. Application in radiographic weld inspection, Image Processing and Communications , Volume 15 , Issue 1 , 2010 , pp 35-45.
A. B. Goumeidane , M. Khamadja , N. Nacereddine , Bayesian Pressure Snake forWeld Defect Detection, Lecture Notes in Computer Science (LNCS) , Volume 5807 , 2009 , pp 309-319.

Communications


Aicha Baya Goumeidane , Abdessalmen Bouzaeini , Nafaa Nacereddine , Salvatore Tabbone , Bayesian Networks-Based Defects Classes Discrimination in Weld Radiographic Images, 16th Computer Analysis of Images and Patterns (CAIP 2015) ,2015.
A. B. Goumeidane , M. Khamadja , H. Benoit-Cattin , C. Odet , A generic shape decomposition, IEEE International Conference on Progress in Informatics and Computing (PIC) ,2010.
A. B. Goumeidane , M. Khamadja , B. Belaroussi , H. Benoit-Cattin , C. Odet , New discrepancy measures for segmentation evaluation., IEEE International Conference on Image Processing (ICIP) ,2003.